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富士變頻器報(bào)警故障維修成功案例講解
富士變頻器報(bào)警維修:ER1/ER2/ER3/ER4/ER5/ER6/ER7
1:報(bào)警ER1:為CPU內(nèi)存故障,如沒(méi)有其他問(wèn)題,把CPU換掉就可以,還有是E9S的Er1是存儲(chǔ)器的內(nèi)容丟失,跟干擾有關(guān),大部分可恢復(fù)。但參數(shù)是保密的。
2:報(bào)警ER2:大部分是cpu板壞引起的,要更換cpu板,價(jià)格昂貴。
3:報(bào)警ER3:大部分是cpu板壞引起的,要更換cpu板,價(jià)格昂貴,有些是由于外部噪聲引起的,初始化以下試驗(yàn)一下。
4:ER4和ER5,使變頻器的外圍選件出現(xiàn)問(wèn)題。
5:ER6:是變頻器的操作錯(cuò)誤,如果排除操作問(wèn)題可能就是CPU版壞了。
6:ER7:是變頻器自整定不良引起的,一般是由于接觸器檢測(cè)輔助端子有過(guò)多的灰塵引起的接觸不良引起的,如果是富士G11的變頻器接觸器的主觸點(diǎn)不好也會(huì)報(bào)警ER7故障
如果你啟動(dòng)變頻器的自整定的命令是報(bào)警ER7現(xiàn)象一般是電源板的檢測(cè)電路部分特別是光藕A7800和周?chē)谋容^器出現(xiàn)問(wèn)題。
如果不行只能更換電源板,
富士G9系列報(bào)ER7有些是CPU板的故障,故障率還比較高。
富士變頻器報(bào)警:OC,0C1,0C2,0C3:故障的維修對(duì)策富士變頻器報(bào)警:OC,0C1,0C2,0C3:故障的維修對(duì)策富士變頻器常見(jiàn)故障的維修對(duì)策
變頻調(diào)速器作為一種高效節(jié)能的電機(jī)調(diào)速裝置在黃驊港煤炭裝卸設(shè)備中得到了廣泛應(yīng)用。其中采用較多的日本富士變頻器,使用多年后已漸入故障高發(fā)期。下面就富士變頻器的一些常見(jiàn)故障及判斷
解決方法介紹如下。
一、oC1、OC2、OC3故障,故障顯示OC1,0C2,0C3,是富士變頻器最常見(jiàn)的故障之一,它指變頻器加速、減速和恒速中過(guò)電流,此故障產(chǎn)生的原因有以下幾種。
1.加減速時(shí)間過(guò)短,這是最常見(jiàn)的過(guò)電流現(xiàn)象。可依據(jù)不同的負(fù)載情況相應(yīng)調(diào)整加減速時(shí)間,
就能消除此故障。
2.大功率晶體管損壞也可能引起OC報(bào)警。從早期的用于G2(P2),G5(P5),G7(P7)系列的GTR模塊,到G9(P9)系列的IGBT模塊,以至IPM模塊,無(wú)論從封裝技術(shù)還是保護(hù)性能,都有了很大提高,高耐壓、大電流、高頻、低耗、靜音、多保護(hù)功能已成為大功率晶體管模塊的發(fā)展趨勢(shì)。
大功率晶體管模塊的損壞主要有以下幾種原因:(1)輸出負(fù)載短路;(2)負(fù)載過(guò)大,大電流持續(xù)出現(xiàn);(3)負(fù)載波動(dòng)很大,導(dǎo)致浪涌電流過(guò)大。
3.大功率晶體管的驅(qū)動(dòng)電路損壞導(dǎo)致過(guò)流報(bào)警。富士G7S、G9S分別使用了PC922和PC923兩種光耦作為驅(qū)動(dòng)電路的核心部分。由于內(nèi)置放大電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,被包括富士變頻器在內(nèi)的多家變頻器廠家廣泛使用。驅(qū)動(dòng)電路損壞的最常見(jiàn)現(xiàn)象就是缺相,或三相輸出電壓不平衡。
4.檢測(cè)電路的損壞導(dǎo)致變頻器顯示OC報(bào)警。檢測(cè)電流的霍爾傳感器由于受溫濕度等環(huán)境因素的@G=。0可匡0匡匡嘯0影響,工作點(diǎn)很容易飄移,導(dǎo)致OC報(bào)警。
二、開(kāi)關(guān)電源損壞
開(kāi)關(guān)電源損壞的特征是變頻器上電無(wú)顯示。富士G5S采用兩級(jí)開(kāi)關(guān)電源,先把中間直流回路的直流電壓由500V左右轉(zhuǎn)換成300V左右,然后再通過(guò)一級(jí)開(kāi)關(guān)電源輸出5V、24V等多路電源。開(kāi)關(guān)電源損壞常見(jiàn)的有開(kāi)關(guān)管擊穿、脈沖變壓器燒壞以及次級(jí)輸出整流二極管損壞。濾波電容使用時(shí)間過(guò)長(zhǎng),導(dǎo)致電容特性變化,帶載能力下降,也很容易造成開(kāi)關(guān)電源損壞。富士G9S使用一片開(kāi)關(guān)電源專(zhuān)用的波形發(fā)生芯片,由于主回路高電壓的竄入,經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致此芯片損壞且較難修復(fù)。
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